Ravna rešetka 200l/mm 500nm-5000nm

• Ultra{0}}široka spektralna pokrivenost: Optimizirano za raspon od 500nm-5000nm, obuhvaća cijeli vidljivi spektar, blizu-infracrvenog i daleko do srednjeg infracrvenog. Ova jedinstvena rešetka omogućuje dizajn instrumenata koji se mogu odnositi na više domena primjene bez mijenjanja optičkih komponenti.
• Gustoća žljebova od 200 l/mm: Gustoća žljebova od 200 l/mm idealna je za širokopojasne performanse, pružajući izvrsnu učinkovitost u vidljivom dijelu dok održava optimalnu disperziju i propusnost u srednje-infracrvenom području gdje duže valne duljine zahtijevaju širi razmak žljebova.
• Precizna pravila za slabo raspršeno svjetlo: Napredne tehnike upravljanja stvaraju ultra-glatke profile utora koji minimiziraju raspršenje po cijelom spektralnom rasponu, osiguravajući da se učinkovitost difrakcije ravne rešetke prevodi u čiste spektralne podatke visokog omjera-na-šumu.
• Visoko-učinkoviti širokopojasni premazi: Sadrži specijalizirane premaze dizajnirane za održavanje visoke refleksije od vidljivog do srednje-infracrvenog, kritično za primjene koje uključuju toplinsku emisiju, spektroskopiju molekularnih vibracija i analizu dugih-valnih duljina.
• Izvrsna kvaliteta valnog fronta: Proizvedeno na visoko{0}}kvalitetnim podlogama s izvanrednom ravnošću, jamčeći minimalno izobličenje valnog fronta-ključno za održavanje fokusa i razlučivosti u tako ekstremnom spektralnom rasponu.

Ova svestrana ravna refleksijska rešetka idealna je komponenta za instrumente koji zahtijevaju široku spektralnu pokrivenost od vidljivog do srednje{0}}infracrvenog:

• FTIR spektrometri: Može se integrirati kao sekundarni disperzivni element za aplikacije koje zahtijevaju veću razlučivost ili kao primarna rešetka u disperzivnim srednje-IR sustavima.
• Spektroskopija toplinske emisije: Neophodan za karakterizaciju izvora toplinskog zračenja, mjerenje emisivnosti materijala i analizu procesa izgaranja gdje se spektralne značajke protežu u srednji-IR.
• Analiza znanosti o materijalima: Koristi se u instrumentima za karakterizaciju polimera, keramike, premaza i kompozita sa spektralnim potpisima koji se protežu od vidljivih do srednjih{0}}infracrvenih područja.
• Monokromator s ravnom rešetkom: Savršeno za monokromatore u podesivim izvorima svjetlosti, sinkrotronskim snopovima i istraživačkim-postavkama opće namjene koje zahtijevaju ultra-selektivnost valne duljine s jednom rešetkom.
• Praćenje okoliša: Omogućuje detekciju višestrukih atmosferskih zagađivača i stakleničkih plinova s ​​apsorpcijskim značajkama raspoređenim od vidljivog do srednjeg-IR spektra.